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MTE2117C1

Name: Marktech Optoelectronics MTE2117C1
Brand: Marktech Optoelectronics
SKU: 193-MTE2117C1
Price: 12.42 USD
Availability: InStock

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Mouser N.º:

193-MTE2117C1

Fabricante N.º:

MTE2117C1

Fabricante:

Marktech Optoelectronics

Descripción:

Emisores infrarrojos 1760nm SWIR Dome Lens

Hoja de datos:

MTE2117C1 Hoja de datos (PDF)

Modelo ECAD:

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	$12.42	$12.42
	$9.64	$96.40
	$8.01	$801.00
	$7.30	$3,650.00
	$7.08	$7,080.00
2,500	Presupuesto

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Atributo del producto	Valor de atributo	Seleccionar atributo
Fabricante:	Marktech Optoelectronics
Categoría de producto:	Emisores infrarrojos
RoHS:
Estilo de montaje:	Through Hole
Longitud de onda:	1760 nm
Ángulo del haz:	25 deg
If - Corriente directa:	50 mA
Vf - Tensión directa:	950 mV
Régimen de potencia:	3 mW
Temperatura de trabajo mínima:	- 20 C
Temperatura de trabajo máxima:	+ 85 C
Paquete / Cubierta:	5 mm
Empaquetado:	Bulk
Marca:	Marktech Optoelectronics
País de ensamblaje:	Not Available
País de difusión:	Not Available
País de origen:	JP
Sensibles a la humedad:	Yes
Tipo de producto:	IR Emitters (IR LEDs)
Serie:	SWIR LED
Cantidad de empaque de fábrica:	1
Subcategoría:	Infrared Data Communications

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CNHTS:: 8541410090
CAHTS:: 8541410000
USHTS:: 8541410000
JPHTS:: 854141000
TARIC:: 8541410000
MXHTS:: 8541410100
ECCN:: EAR99

Short Wavelength Infrared Emitters

Marktech Optoelectronics Short Wavelength Infrared (SWIR) Emitters include both through-hole and surface mount packages with wavelengths from 1020nm to 1900nm. The SWIR emitters operate from 20mA to 350mA current range and are designed for high-power applications. These emitters consist of a high-output infrared die in a water-clear 5mm plastic molded package. The SWIR emitters offer high-speed light emission in ranges not easily seen by standard detectors and are ideal for material and chemical analysis. Typical applications include optical switches, optical sensors, fiber optical communication, Bioflorescence and blood chemistry analysis, night vision, safety equipment, currency validation, fiber optics, and inspection systems.